El diseño de amplificadores de alta potencia (AAP) integrados requiere un compromiso entre estabilidad y rendimiento. Hoy en día existen excelentes trabajos de investigación y chips comerciales donde se prioriza el rendimiento o la potencia. Sin embargo, en el diseño de la gran mayoría de circuitos integrados monolíticos de microondas se ignoran muchos de los conceptos de estabilidad, ya sea en la medición sobre la oblea o en el montaje de la placa del circuito impreso. Además, en el mejor de los casos, se utilizan conocimientos básicos para el análisis de estabilidad del amplificador. Por lo tanto, es necesario desarrollar técnicas robustas de análisis de estabilidad. Las redes de sensores inalámbricos, el mejor uso del Internet de las Cosas y el uso eficiente del espectro de radiofrecuencia dependen del correcto diseño y funcionamiento de los AAP.
Wilmar Hernández, docente investigador de UDLA, en colaboración con investigadores de la Universidad Politécnica de Madrid, España, e INDRA, España, desarrollaron el estudio titulado “Stability, Mounting, and Measurement Considerations for High-Power GaN MMIC Amplifiers”, publicado en la revista de alto impacto “Sensors”. El artículo trata sobre el diseño y construcción de un amplificador de alta potencia, y pone de manifiesto los problemas asociados con la estabilidad de las mediciones “en oblea”. En palabras simples, una oblea es una lámina fina de un material semiconductor utilizada para fabricar circuitos integrados. (Bock, 2023)
¿De qué trata el artículo?
En este estudio se analizan técnicas para predecir posibles oscilaciones y garantizar la estabilidad de un circuito integrado monolítico de microondas. También, se hace una reflexión profunda sobre las inestabilidades que se producen al medir tanto en oblea como utilizando un chip. Las técnicas de estabilidad se utilizan como herramientas para caracterizar los resultados de las mediciones.
Además de identificar puntos críticos en el diseño y medición del amplificador, el estudio demuestra que la estabilidad del dispositivo se puede verificar mediante un análisis simple y que las inestabilidades muchas veces están asociadas a errores en el proceso de medición y/o en la caracterización de la medición.
Para conocer más, lee el artículo completo: https://www.mdpi.com/1424-8220/23/23/9602
